施耐德PowerLogic 电力参数测量仪 PM5350 用户手册63230-401-201A2 09/2012
上传时间： 2021-11-30
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用MEGA16做的继电器参数测量仪 该电磁继电器特性参数测量仪以用8位MCU作为主控制器，并通过该MCU的DA转换输出可控稳压电源加载到继电器两端。测量继电器的最小吸合电压时，使DA输出电压从低电压到高电压变化，当继电器闭合时，记录此时的DA转化电压并显示在1602上，测量释放点压的加压顺序正好相反。在测量常闭电阻时，采用7805恒流源电路与三运放测量放大电路，再由AD返回电压值，最后MCU计算出常闭电阻。
上传时间： 2013-10-20
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// 带有列主元的高斯消元法 // 功能： 求解线性方程组 Ax = b // 参数： A － 指向n*n系数矩阵的指针 // b － 常数向量的指针 // n － 方程组的维数 // 返回值：0 － 如果成功。线性方程组的解保存在 b 中 // 1 － 求解失败
上传时间： 2013-12-17
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钟型隶属函数-b参数变化钟型隶属函数-b参数变化
上传时间： 2014-11-12
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水产养殖水质参数测量仪的设计-范文 (1)
上传时间： 2016-05-03
上传用户：zzy330612
该文档为用PIC16F877A单片机制作的PWM参数测量仪总结文档，是一份很不错的参考资料，具有较高参考价值，感兴趣的可以下载看看………………
标签： pic16f877a 单片机 pwm
上传时间： 2022-03-25
上传用户：jimmy950583
随着我国电力工业的迅猛发展，电网上非线性负载的日益增多，导致线路电压、电流经常出现非正弦状态，从而造成电网谐波“污染”。电网谐波恶化了电能质量指标，降低了电网的可靠性，增加了电网的损失。所以，电器设备在出厂前需要对其进行检测，看其是否会影响电网的电能质量。那么可靠的电力参数测量设备的研制就变得非常重要。通过充分调研并翻阅大量资料，针对课题要求，提出了以ARM作为处理器，结合外围电路，借由μC/OS-Ⅱ操作系统对硬件进行控制，来完成电参数采集及其处理的思路。 本论文完成了装置的硬件电路设计和软件开发。硬件方面采用Philips公司的LPC2132作为处理器，结合外围电路，建立起基本的采样、通信和人机接口硬件平台。软件方面，首先分析了电参数测量的算法，并进行了必要的仿真。在完成μC/OS-Ⅱ在LPC2132上移植的基础上，进行多任务设计，完成数据采集、电量参数计算、USB串口通信和人机接口等功能。
上传时间： 2013-06-07
上传用户：jiachuan666
变频电源具有低损耗和高效率等显著优点，其性能的优劣直接关系到整个系统的安全性和可靠性指标，随着工业上变频电源的广泛应用，对其性能参数的检测也越来越重要，因此对变频电源设备输出电参数进行测量方面的研究具有重要的意义。 论文综述了国内外各种交流变频电参数测量系统的研究现状和应用技术，根据变频设备的工作机理和输出特性，提出了系统的总体设计方案。由于变频设备的输出范围广且变化快，并且国内大部分参数测量设备都是针对工频进行设计的，基于此本文采用高速的数字处理器和改进的算法来进行控制实现。 论文首先给出了各电参数测量的国际标准和理论基础，重点分析了如何通过希尔波特变换来实现频率的测量。为了滤除不需要的高次谐波并精确的测量频率，建立了FIR滤波器模型，通过MATLAB编程进行了数字仿真，验证了算法的正确性；利用周期法进行了其它电参数的测量实现，并在Labview 中进行了仿真，作为辅助分析软件具有快速直观的特点并有很大的通用性。 在理论分析和仿真的基础上，论文设计了基于TMS320F2812 DSP的控制系统，并结合原理图介绍了各模块运行原理；重点分析了如何利用CPLD来实现时序控制的功能，并给出了VHDL设计的程序和仿真结果。最后进行软件程序上的设计，对各部分进行了程序分析和设计，各模块结构相互关联，具有很好的扩展性和移植性。
上传时间： 2013-04-24
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该论文首先对脉冲及其参数进行了分析,然后介绍了雷达脉冲参数测量的原理,并针对现代复杂电磁环境的特点,对脉冲参数测量的方案进行了设计.最后利用Xilinx公司的Spartan-II系列20万门FPGA芯片实现了对高密度视频脉冲流的脉冲到达时间(TOA)、脉冲宽度(PW)和脉冲幅度(PA)等参数的实时高精度测量,并对测量误差进行了分析,同时给出了功能仿真的波形.该测量方法是基于FPGA的硬件实现方法,其系统结构简单,测量速度快、精度高,满足对脉冲参数测量高精度、实时性的要求.
上传时间： 2013-07-05
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提出了一个考虑ＦＰ 效应的半导体材料参数测量方案。利用该方案可以在时域波形中，截取多个反射回峰，以提高材料参数提取的精确度。另外，考虑到多重反射对样品厚度的准确性要求较高，提出了一种有效的厚度优化方法。以ＧａＡｓ 为待测样品，利用上述方法精确提取了其折射率与消光系数谱.
上传时间： 2013-12-15
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